光耦參數測試儀
光耦參數測試儀
詳細介紹
光耦參數測試儀 參數指標表:
參數項
測試參數
測試條件設置
輸入正向壓降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐壓(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
傳輸比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V
IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)
0-2.000V
IF:0-400MA
IC:0-2.00A
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產品或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數:
光耦參數測試儀
輸出漏電流(Iceo)
0-1mA
VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)
0-1mA
VR=4V
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
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